Nomor Standar: YS/T 14-2015(YS/T14-2015)
Bahasa Cina:异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
Bahasa Indonesia:Pengukuran ketebalan lapisan epitaksi dan polikristalin silikon heterogen
Tanggal Berlaku:2015-10-01
Lingkup Standar:Standar ini berlaku untuk mengukur ketebalan lapisan epitaksi heterogen dan lapisan polikristalin silikon dengan ketebalan lapisan antarmuka antara substrat dan lapisan deposisi kurang dari 100 nm, dan rentang pengukurannya adalah 1 μm hingga 100 μm.
Dapat Diunduh dalam Format PDF: N
Anda dapat mengklik tombol di bawah untuk membeli versi PDF, dan kami akan mengirimkannya kepada Anda melalui email.Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.
Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.
