Nomor Standar: SJ/T 2658.9-2015(SJ/T2658.9-2015)
Bahasa Cina:半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
Bahasa Indonesia:Metode pengukuran untuk dioda pemancar inframerah semikonduktor Bagian 9: Distribusi spasial intensitas radiasi dan sudut setengah intensitas
Tanggal Berlaku:2016-04-01
Lingkup Standar:
Dapat Diunduh dalam Format PDF: N
Anda dapat mengklik tombol di bawah untuk membeli versi PDF, dan kami akan mengirimkannya kepada Anda melalui email.Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.
Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.
