Nomor Standar: GB/Z 21738-2008
Bahasa Cina:一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法
Bahasa Indonesia:Struktur dasar material nano satu dimensi – Karakterisasi mikroskop elektron resolusi tinggi
Tanggal Berlaku:2008-11-01
Otoritas Regulasi:Akademi Ilmu Pengetahuan Tiongkok
Otoritas Regulasi Penerbit:Administrasi Negara untuk Pengawasan dan Administrasi Pasar,Administrasi Standardisasi Tiongkok (SAC)
Mematuhi standar internasional:N
Dapat Diunduh dalam Format PDF:Y
Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.
Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.