GB/T 4937.4-2012 Perangkat semikonduktor – Metode uji mekanis dan iklim – Bagian 4: Panas lembap, kondisi mapan, uji stres yang sangat dipercepat (HAST)

Nomor Standar: GB/T 4937.4-2012
Bahasa Cina:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
Bahasa Indonesia:Perangkat semikonduktor – Metode uji mekanis dan iklim – Bagian 4: Panas lembap, kondisi mapan, uji stres yang sangat dipercepat (HAST)

Tanggal Berlaku:2013-02-15
Otoritas Regulasi:Kementerian Industri dan Teknologi Informasi (Elektronik)
Otoritas Regulasi Penerbit:Administrasi Umum Pengawasan Mutu, Inspeksi dan Karantina Republik Rakyat Tiongkok,Administrasi Standardisasi Tiongkok (SAC)

Mematuhi standar internasional:Y
Dapat Diunduh dalam Format PDF:N

Anda dapat mengklik tombol di bawah untuk membeli versi PDF, dan kami akan mengirimkannya kepada Anda melalui email.

Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.

Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.