Nomor Standar: GB/T 30701-2014
Bahasa Cina:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
Bahasa Indonesia:Analisis kimia permukaan-Metode kimia untuk pengumpulan elemen dari permukaan bahan referensi kerja silikon-wafer dan penentuannya dengan spektroskopi fluoresensi sinar-X pantulan total (TXRF)
Tanggal Berlaku:2014-12-01
Otoritas Regulasi:Administrasi Standardisasi Nasional Tiongkok
Otoritas Regulasi Penerbit:Administrasi Umum Pengawasan Mutu, Inspeksi dan Karantina Republik Rakyat Tiongkok,Administrasi Standardisasi Tiongkok (SAC)
Mematuhi standar internasional:Y
Dapat Diunduh dalam Format PDF:N
Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.
Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.
