Nomor Standar: GB/T 26070-2010
Bahasa Cina:化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
Bahasa Indonesia:Karakterisasi kerusakan bawah permukaan pada wafer semikonduktor senyawa yang dipoles dengan metode spektroskopi perbedaan reflektansi
Tanggal Berlaku:2011-10-01
Otoritas Regulasi:Administrasi Standardisasi Nasional Tiongkok
Otoritas Regulasi Penerbit:Administrasi Umum Pengawasan Mutu, Inspeksi dan Karantina Republik Rakyat Tiongkok,Administrasi Standardisasi Tiongkok (SAC)
Mematuhi standar internasional:N
Dapat Diunduh dalam Format PDF:Y
Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.
Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.
