Nomor Standar: GB/T 25188-2010
Bahasa Cina:硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
Bahasa Indonesia:Pengukuran ketebalan untuk lapisan silikon oksida ultrathin pada wafer silikon Spektroskopi fotoelektron sinar-X
Tanggal Berlaku:2011-08-01
Otoritas Regulasi:Administrasi Standardisasi Nasional Tiongkok
Otoritas Regulasi Penerbit:Administrasi Umum Pengawasan Mutu, Inspeksi dan Karantina Republik Rakyat Tiongkok,Administrasi Standardisasi Tiongkok (SAC)
Mematuhi standar internasional:N
Dapat Diunduh dalam Format PDF:Y
Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.
Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.
