GB/T 22572-2008 Analisis kimia permukaan – Spektrometri massa ion sekunder – Metode untuk memperkirakan parameter resolusi kedalaman dengan beberapa bahan referensi lapisan delta

Nomor Standar: GB/T 22572-2008
Bahasa Cina:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
Bahasa Indonesia:Analisis kimia permukaan – Spektrometri massa ion sekunder – Metode untuk memperkirakan parameter resolusi kedalaman dengan beberapa bahan referensi lapisan delta

Tanggal Berlaku:2009-10-01
Otoritas Regulasi:Administrasi Standardisasi Nasional Tiongkok
Otoritas Regulasi Penerbit:Administrasi Umum Pengawasan Mutu, Inspeksi dan Karantina Republik Rakyat Tiongkok,Administrasi Standardisasi Tiongkok (SAC)

Mematuhi standar internasional:Y
Dapat Diunduh dalam Format PDF:N

Anda dapat mengklik tombol di bawah untuk membeli versi PDF, dan kami akan mengirimkannya kepada Anda melalui email.

Klik di bawah untuk membeli versi cetak. Dikirim via FedEx dalam 7 hari. Pengembalian penuh jika stok habis.

Jika Anda mengalami masalah berikut, silakan klik di sini untuk menghubungi kami, kami akan berusaha sebaik mungkin untuk membantu Anda.
1. Anda tidak dapat menemukan dokumen standar yang Anda cari di situs web kami.
2. Anda telah menemukan dokumen standar, tetapi halaman kami menunjukkan bahwa unduhan PDF tidak tersedia.
3. Anda perlu membeli versi terjemahan kami.